如果需要一款高量測精度的探針臺，并不是有些廠商單純的認(rèn)為，通過簡單的機(jī)械加工加上一臺顯微鏡就可以完成，我們在探針臺設(shè)備的研發(fā)中有著近二十年的經(jīng)驗，并有著精細(xì)機(jī)械加工的技術(shù)能力，可以為您提供高準(zhǔn)確的探針臺電學(xué)檢測儀器，同時我們與世界電學(xué)信號測試廠家有著多年的合作，可以提供各類電學(xué)測試解決方案。在對射頻設(shè)備進(jìn)行原型設(shè)計和測試時，很多情況下，在電路的非端口位置進(jìn)行測試有助于優(yōu)化設(shè)計或者故障排除。然而實際操作中，在較高的頻率下進(jìn)行測試是一項更大的挑戰(zhàn)。PCB生產(chǎn)完畢后，直接對PCB進(jìn)行測試。山西全自動探針臺供應(yīng)商

精細(xì)探測技術(shù)帶來新優(yōu)勢：先進(jìn)應(yīng)力控制技術(shù)亦是必須的。為減少或消除造成良率下降之墊片損傷，在銅質(zhì)墊片加上鋁帽將能減少對易碎低K/高K介電的負(fù)面效應(yīng)。以先進(jìn)工藝驅(qū)動在有效區(qū)域上墊片的測試，以低沖擊的探針卡，避免接觸所產(chǎn)生阻抗問題。另一個可能損害到晶圓的來源是探針力道過猛或不平均，因此能動態(tài)控制探針強(qiáng)度也是很重要的；若能掌握可移轉(zhuǎn)的參數(shù)及精細(xì)的移動控制，即可提升晶圓翻面時的探測精確度，使精細(xì)的Z軸定位接觸控制得到協(xié)調(diào)，以提高精確度，并縮短索引的時間。重慶探針臺供應(yīng)探針卡焊完后使針尖剛好回到壓點中心,同時針焊好后應(yīng)檢查針尖的位置，檢查針的牢固性。

平面電機(jī)x-y步進(jìn)工作臺：平面電機(jī)由定子和動子組成，它和傳統(tǒng)的步進(jìn)電機(jī)相比其特殊性就是將定子展開，定子是基礎(chǔ)平臺，動子和定子間有一層氣墊，動子浮于氣墊上，而可編程承片臺則安裝在動子之上。這種結(jié)構(gòu)的x-y工作臺，由于動子和定子間無相對摩擦故無磨損，使用壽命長。而定子在加工過程中生產(chǎn)廠家根據(jù)不同的設(shè)計要求如分辨力等，用機(jī)加工的方法在一平面的鐵制鑄件上加工出若干個線槽，線槽間的距離即稱為平面電機(jī)的齒距，而定子則按不同的細(xì)分控制方式，按編制好的運行程序借助于平面定子和動子之間的氣墊才能實現(xiàn)步進(jìn)運動。

“精確度”是探測儀器基本的指針，涵蓋定位、溫度及生產(chǎn)率等三個層面。首先，必須能穩(wěn)定、精確地探測到小型墊片，載臺系統(tǒng)亦須精確、能直接驅(qū)動晶圓托盤，并在晶圓移動的過程中準(zhǔn)確地將晶圓和晶圓對位；其次，必須具備動態(tài)監(jiān)控機(jī)制，確保所挾帶的空氣以監(jiān)控溫度、掌握可靠度和穩(wěn)定性；后，必須對高產(chǎn)出的進(jìn)階移動做動態(tài)控制才能擁有佳的終結(jié)果。整體而言，針腳和墊片之間的相應(yīng)精確度應(yīng)在±1.5μm之間。隨著新工藝的微縮，為了強(qiáng)化更小晶粒定位的精確性，需要動態(tài)的Z軸輔助校正工作，以避免無謂的產(chǎn)出損失。焊針時，應(yīng)憑自己的經(jīng)驗,把針尖離壓點中心稍微偏一點。

探針臺是用于檢測每片晶圓上各個芯片電信號，保證半導(dǎo)體產(chǎn)品品質(zhì)的重要檢測設(shè)備。下面我們來了解下利用探針臺進(jìn)行在片測試的一些相關(guān)問題，首先為什么需要進(jìn)行在片測試？因為我們需要知道器件真正的性能，而不是封裝以后的，雖然可以去嵌，但還是會引入一些誤差和不確定性。因為我們需要確定哪些芯片是好的芯片來降低封裝的成本并提高產(chǎn)量。因為有時我們需要進(jìn)行自動化測試，在片進(jìn)行自動化測試成本效益高而且更快。一個典型的在片測試系統(tǒng)，主要包括：矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，線纜，探針，探針定位器，探針臺，校準(zhǔn)設(shè)備及軟件，電源偏置等。某些針尖壓痕太長，超出PAD范圍，使PAD周圍的鋁線短路。山東半自動探針臺廠家

探針臺如果發(fā)現(xiàn)缺陷，產(chǎn)品小組將用測試數(shù)據(jù)來確保有缺陷的芯片不會被送到客戶手里。山西全自動探針臺供應(yīng)商

探針卡沒焊好：1．探針卡針焊得不到位；2．基板上銅箔剝落，針焊接不牢固，或焊錫沒有焊好而造成針虛焊；3．探針卡布線斷線或短路；背面有突起物，焊錫線頭針尖磨平：1.針在使用很長時間后尖正常損耗；2.操作工用過粗的砂子；3.砂針尖時用力過猛；4.砂得時間過長；針尖如磨平，使針尖偏離壓點，測試無法通過，針尖接觸面大，而接觸電阻大影響參數(shù)測試，所以平時如果在測片子之前，先拿上卡到顯微鏡下檢查針尖有否磨平，如已磨平應(yīng)及時換針，操作工在砂針尖時注意技能，應(yīng)輕輕打磨針尖，而不致于磨平針尖。山西全自動探針臺供應(yīng)商