②隨機引物法。隨機引物是指含有各種可能排列順序的寡聚核苷酸片斷的混合物，因此它可以與任意核苷酸序列雜交，起到聚合酶反應的引物作用。將待標記的DNA探針片斷變性后與隨機引物一起雜交，然后以此雜交的寡聚核苷酸為引物，在大腸桿菌DNA聚合酶I大斷段（KlenowFragment）催化下，合成與探針DNA互補的DNA鏈，當在反應體系中含有a-32P-dNTP時，即形成放射性同位素標記的DNA探針。具有上述優(yōu)點，可代替缺口平移法。此外大小、單雙DNA均可標記，標記均勻，標記率高，但也不能標記環(huán)狀DNA。隨機引物法標記探針一般長400~600bp。分析元素從原子序數(shù)3（鋰）至92（鈾）。感量可達10-14至10-15g。長寧區(qū)優(yōu)勢探針推薦貨源

缺口平移法是**常用的探針標記法，反應體系的主要成分有DNA酶I（DNase I）、大腸桿菌DNA聚合酶I（DNA polymerase I）、三種三磷酸脫氧核糖核苷酸、一種同位素標記的核苷酸（如dATP、dTTP、dCTP，”P—dGTP），其原理如圖1。首先用適當濃度的DNA酶I在探針DNA雙鏈分子上隨機切開若干個缺口（不是切斷DNA或將其降解），然后再借助于DNA聚合酶I的5 '→3'的外切酶活性，切去5’末端的核苷酸；同時又利用該酶的5’→3’聚合酶活性，使32P標記的互補核苷酸補入缺口．DNA聚合酶I的這兩種活性的交替作用，使缺口不斷向3’的方向移動，DNA鏈上的核苷酸不斷為32P標記的核苷酸所取代。由于反應體系中含有同位素標記的單核苷酸，使新合成的鏈帶有同位素標記，所以缺口平移實際上是同位素標記的核苷酸取代了原DNA鏈中不帶同位素的同種核苷酸。寶山區(qū)標準探針銷售廠家為此，一般也采用鎢絲熱發(fā)射電子槍和2-3個聚光鏡的結構。

用此探針在DNA文庫中篩選，陽性克隆即是目標蛋白的編碼基因。值得一提的是真核細胞和原核細胞DNA組織有所不同。真核基因中含有非編碼的內含子序列，而原核則沒有。因此，真核基因組DNA探針用于檢測基因表達時雜交效率要明顯低于cDNA探針。DNA探針（包括cDNA探針）的主要優(yōu)點有下面三點：①這類探針多克隆在質粒載體中，可以無限繁殖，取之不盡，制備方法簡便。②DNA探針不易降解（相對RNA而言），一般能有效抑制DNA酶活性。③DNA探針的標記方法較成熟，有多種方法可供選擇，如缺口平移，隨機引物法，PCR標記法等，能用于同位素和非同位素標記。

電子探針又稱微區(qū)X射線光譜分析儀、X射線顯微分析儀。其原理是利用聚焦的高能電子束轟擊固體表面，使被轟擊的元素激發(fā)出特征X射線，按其波長及強度對固體表面微區(qū)進行定性及定量化學分析。主要用來分析固體物質表面的細小顆?；蛭⑿^(qū)域，**小范圍直徑為1μm左右。分析元素從原子序數(shù)3（鋰）至92（鈾）。***感量可達10-14至10-15g。近年形成了掃描電鏡-顯微分析儀的聯(lián)合裝置，可在觀察微區(qū)形貌的同時逐點分析試樣的化學成分及結構。廣泛應用于地質、冶金材料、水泥熟料研究等部門。如圖《電子探針示意圖》所示。能進行微區(qū)分析。可分析數(shù)個μm3內元素的成分。

利用電子探針分析方法可以探知材料樣品的化學組成以及各元素的重量百分數(shù)。分析前要根據(jù)試驗目的制備樣品，樣品表面要清潔。用波譜儀分析樣品時要求樣品平整，否則會降低測得的X射線強度。定性分析1 點分析用于測定樣品上某個指定點的化學成分。下圖是用能譜儀得到的某鋼定點分析結果。能譜儀中的多道分析器可使樣品中所有元素的特征X射線信號同時檢測和顯示。不像波譜儀那樣要做全部譜掃描，甚至還要更換分光晶體。2 線分析用于測定某種元素沿給定直線分布的情況。方法是將X射線譜儀（波譜儀或能譜儀）固定在所要測量的某元素特征X射線信號（波長或能量）的位置上，把電子束沿著指定的方向做直線軌跡掃描，便可得到該元素沿直線特征X射線強度的變化，從而反映了該元素沿直線的濃度分布情況。改變譜儀的位置，便可得到另一元素的X射線強度分布。下圖為50CrNiMo鋼中夾雜Al2O3的線分析像。可見，在Al2O3夾雜存在的地方，Al的X射線峰較強。X射線譜儀。測量各種元素產(chǎn)生的X射線波長和強度，并以此對微小體積中所含元素進行定性和定量分析。寶山區(qū)標準探針銷售廠家

背散射電子圖像系統(tǒng)。長寧區(qū)優(yōu)勢探針推薦貨源

電子探針儀（圖1）主要包括：探針形成系統(tǒng) (電子槍、加速和聚焦部件等)、X射線信號檢測系統(tǒng)和顯示、記錄系統(tǒng)、樣品室、高壓電源和掃描系統(tǒng)以及真空系統(tǒng)。電子探針的**早應用領域是金屬學。對合金中各組成相、夾雜物等可作定性和定量分析，直觀而方便，還能較準確地測定元素的擴散和偏析情況。此外，它還可用于研究金屬材料的氧化和腐蝕問題，測定薄膜、滲層或鍍層的厚度和成分等，是機械構件失效分析、生產(chǎn)工藝的選擇、特殊用材的剖析等的重要手段。圖2為鎂合金中稀土氧化物在晶界析出的電子探針分析照片。長寧區(qū)優(yōu)勢探針推薦貨源

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